半導(dǎo)體產(chǎn)品，又被稱(chēng)為集成電路或者IC。在半導(dǎo)體測(cè)試中常用DUT來(lái)表示需要檢測(cè)的IC單元。半導(dǎo)體檢測(cè)的主要目的，是利用測(cè)試設(shè)備執(zhí)行設(shè)定好的測(cè)試工作，然后對(duì)得到的各項(xiàng)參數(shù)值進(jìn)行判斷是否符合設(shè)計(jì)時(shí)的規(guī)范，而這些參數(shù)值會(huì)記錄在規(guī)格表中。
　　一般測(cè)試系統(tǒng)會(huì)根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目不同提供不同的測(cè)量參數(shù)。例如直流測(cè)試、功能測(cè)試、交流測(cè)試等。直流測(cè)試，是驗(yàn)證IC的電壓與電流值；功能測(cè)試，是驗(yàn)證其邏輯功能是否正確；交流測(cè)試則是驗(yàn)證其是否在正確的時(shí)間點(diǎn)上進(jìn)行設(shè)定的功能。
　　在半導(dǎo)體檢測(cè)過(guò)程中通常需要測(cè)試程序來(lái)控制測(cè)試系統(tǒng)的硬件，并對(duì)每次的測(cè)試結(jié)果，作出判斷Pass或Fail。如果測(cè)試結(jié)果符合設(shè)計(jì)的要求則Pass，相反地，不符合設(shè)計(jì)時(shí)則為Fail。所以在搭建您的測(cè)試系統(tǒng)時(shí)要明確您的產(chǎn)品需要進(jìn)行哪種測(cè)試。