半導(dǎo)體器件生產(chǎn)中，從半導(dǎo)體單晶片到制成成品，要經(jīng)歷數(shù)十甚至上百道工序。為了讓產(chǎn)品性能合格、穩(wěn)定，并有高的成品率，根據(jù)各產(chǎn)品的生產(chǎn)情況，對(duì)工藝步驟都要有嚴(yán)格的具體要求。因而，在生產(chǎn)過(guò)程中要建立相應(yīng)的系統(tǒng)和準(zhǔn)確的監(jiān)控措施，先要從半導(dǎo)體工藝檢測(cè)著手。
          半導(dǎo)體工藝檢測(cè)的項(xiàng)目繁多，內(nèi)容廣，方法多種多樣，可粗分為兩類(lèi)。一類(lèi)是半導(dǎo)體晶片在經(jīng)歷每步工藝加工前后或加工過(guò)程中進(jìn)行的檢測(cè)，也就是半導(dǎo)體器件和集成電路的半成品或成品的檢測(cè)。二類(lèi)是對(duì)半導(dǎo)體單晶片以外的原材料、輔助材料、生產(chǎn)環(huán)境、工藝設(shè)備、工具、掩模版和其他工藝條件所進(jìn)行的檢測(cè)。
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