半導(dǎo)體器件生產(chǎn)中，從半導(dǎo)體單晶片到制成成品，須經(jīng)歷上百道工序。為了讓產(chǎn)品性能合格、穩(wěn)定，并有高的成品率，根據(jù)各產(chǎn)品的生產(chǎn)情況，對工藝步驟都要有嚴(yán)格的具體要求。因而，在生產(chǎn)過程中建立相應(yīng)的系統(tǒng)和監(jiān)控措施，先要從半導(dǎo)體工藝檢測著手。
             半導(dǎo)體檢測的項目繁多，內(nèi)容較廣，方法多種多樣，可粗分為兩類。一類是半導(dǎo)體晶片在經(jīng)歷每步工藝加工前后或加工過程中進(jìn)行的檢測，也就是半導(dǎo)體器件和集成電路的半成品或成品的檢測。二類是對半導(dǎo)體單晶片以外的原材料、生產(chǎn)環(huán)境、工藝設(shè)備、工具、掩模版和其他工藝條件所進(jìn)行的檢測。
             轉(zhuǎn)載請注明出處：http://mside.cn